為什么要使用維氏硬度測(cè)試

對(duì)于許多質(zhì)量測(cè)試和其他程序而言硬度測(cè)試至關(guān)重要尤其是維氏硬度測(cè)試。硬度測(cè)試使我們能夠評(píng)估材料的性能例如延展性強(qiáng)度和耐磨性這將有助于我們確定檢查材料是否適合特定用途。

材料的硬度不是其基本性能而只是確定材料對(duì)最大變形的抵抗力的一種方法。對(duì)特定材料進(jìn)行的硬度測(cè)試基于要測(cè)試的材料的均勻性尺寸類(lèi)型和條件。有幾種硬度計(jì)測(cè)試可用其中之一是維氏硬度測(cè)試。

維氏硬度測(cè)試是一種多方面的測(cè)試方法可用于微觀和宏觀硬度測(cè)試。

維氏硬度測(cè)試是由喬治·E·桑德蘭（George E. Sandland）和羅伯特·史密斯（Robert L. Smith）在1921年開(kāi)發(fā)的是布氏硬度測(cè)量方法的替代方法。

維氏硬度測(cè)試（包括顯微硬度測(cè)試）可用于多種應(yīng)用和材料。

與其他硬度測(cè)試相比維氏硬度計(jì)它通常被認(rèn)為易于執(zhí)行因?yàn)閴侯^可與各種材料一起使用而不論其硬度如何而且壓頭的尺寸不會(huì)影響所需的計(jì)算。

維氏測(cè)試方法的分類(lèi)

維氏測(cè)試方法被認(rèn)為是靜態(tài)硬度測(cè)試方法可以進(jìn)一步分為以下幾個(gè)方面：

被視為標(biāo)準(zhǔn)化程序之一（ASTM E384ASTM E92ISO 6507）

這是一種光學(xué)方法意味著測(cè)試材料/試樣的硬度值由壓痕的大小確定。

壓頭的平面角為136°并且是等邊菱形金字塔。

維氏測(cè)試方法可用于硬度測(cè)試的所有負(fù)載范圍（從微觀到宏觀范圍）因?yàn)楦鶕?jù)ASTM其測(cè)試負(fù)載范圍分別為1gf至120 kgf根據(jù)ISO分別為1gf。

效果如何？

維氏硬度測(cè)試以其在微型和宏觀硬度標(biāo)尺上執(zhí)行的能力令人難以置信最大測(cè)試負(fù)載約為50 kgs。

維氏硬度測(cè)試是通過(guò)在一段時(shí)間內(nèi)在通常為方形菱形棱錐的壓頭上施加受控的力來(lái)執(zhí)行的。

將特定的壓頭壓入待測(cè)表面后借助諸如顯微鏡和目鏡之類(lèi)的大功率放大鏡測(cè)量由該壓頭產(chǎn)生的壓痕。有時(shí)該軟件還可用于分析并產(chǎn)生更**的結(jié)果。

維氏硬度測(cè)試使用兩種變化的力例如10至100克的微觀范圍和1至100公斤的宏觀范圍。

表面洛氏和維氏硬度計(jì)

兩個(gè)范圍都使用相同的壓頭，超聲波測(cè)厚儀因此所產(chǎn)生的硬度值在全金屬硬度范圍內(nèi)是恒定的。

必須進(jìn)行樣品準(zhǔn)備才能獲得比較好的結(jié)果。需要一個(gè)足夠小以適合測(cè)試儀的樣品。

而且為了實(shí)現(xiàn)**的測(cè)量和規(guī)則的壓痕形狀制劑必須具有光滑的表面。這也確保了壓頭可以方便地垂直握住受檢者。

維氏硬度測(cè)試所需的標(biāo)本

使用維氏法時(shí)，粗糙度儀維修首先需要準(zhǔn)備維氏測(cè)試方法所需的試樣表面。

這是因?yàn)闃悠繁砻尜|(zhì)量的要求比其他測(cè)試程序要嚴(yán)格。

樣品需要滿(mǎn)足維氏硬度測(cè)試的給定要求：

在進(jìn)行宏觀硬度測(cè)試的情況下必須對(duì)樣品/材料進(jìn)行精密研磨或者對(duì)于微觀硬度測(cè)試的材料必須進(jìn)行拋光。

樣品/材料在測(cè)試過(guò)程中不應(yīng)移動(dòng)應(yīng)牢固夾緊。

此外在進(jìn)行維氏硬度測(cè)試時(shí)應(yīng)注意任何形式的振動(dòng)或干擾以免產(chǎn)生不良結(jié)果。

維氏硬度測(cè)試的重要性

維氏測(cè)試對(duì)于諸如測(cè)試箔之類(lèi)的超薄材料的應(yīng)用非常有益。

它們對(duì)于測(cè)量單個(gè)微結(jié)構(gòu)小零件或表面以及通過(guò)產(chǎn)生壓痕序列來(lái)確定硬度變化曲線也非常有用。

如果壓痕較小則對(duì)象將更硬。同樣如果壓痕較大則材料也將缺乏硬度。

多個(gè)行業(yè)使用維氏硬度測(cè)試來(lái)確定用于機(jī)械和操作的正確材料類(lèi)型。

電動(dòng)表面洛氏和維氏硬度計(jì)

然后針對(duì)行業(yè)特定目的選擇具有**硬度條件的材料。

維氏硬度測(cè)試的優(yōu)勢(shì)

維氏硬度測(cè)試有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。其中一些將在下面討論：

維氏硬度測(cè)試程序涵蓋了整個(gè)硬度范圍因此可以用于任何類(lèi)型的硬質(zhì)或軟質(zhì)樣品或材料。無(wú)論是關(guān)于顯微硬度測(cè)試還是宏觀硬度測(cè)試維氏硬度測(cè)試都可以為這兩種方法生成準(zhǔn)確的結(jié)果。

維氏硬度測(cè)試通常被認(rèn)為是顯微硬度測(cè)試用于測(cè)試任何種類(lèi)的材料包括復(fù)合材料陶瓷和金屬等。

各種維氏方法僅使用一種壓頭。

維氏硬度測(cè)試中使用的樣品也可以用于其他目的因?yàn)樵摐y(cè)試還伴隨無(wú)損測(cè)試。

維氏硬度測(cè)試的缺點(diǎn)

盡管有許多優(yōu)點(diǎn)使維氏測(cè)試成為**的硬度測(cè)試方法之一，SKF GX振動(dòng)分析儀但也應(yīng)考慮一些缺點(diǎn)。

由于壓痕是用光學(xué)方法測(cè)量的因此樣品的表面質(zhì)量必須光滑且良好。這意味著如果測(cè)試位置準(zhǔn)備不充分（即拋光和磨碎）則可能難以進(jìn)行**的評(píng)估。

與洛氏硬度測(cè)試和其他方法相比維氏硬度測(cè)試相對(duì)較慢。測(cè)試周期不包括準(zhǔn)備樣品所需的時(shí)間大約需要30-60秒。

由于必須進(jìn)行光學(xué)壓痕評(píng)估因此維氏硬度測(cè)試需要配備光學(xué)系統(tǒng)。與其他測(cè)試儀（包括羅克韋爾測(cè)試儀）相比這使維氏硬度測(cè)試的購(gòu)買(mǎi)成本更高。

相關(guān)推薦：

上一篇：維氏硬度是如何測(cè)量的

下一篇：沒(méi)有下一篇了