五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)知識(shí)匯總

　　五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)：射線檢測(cè)(Radiographic Testing)、超聲檢測(cè)(Ultrasonic Testing)、磁粉檢測(cè)(Magnetic Particle Testing)、滲透檢測(cè)(Penetrant Testing)、渦流檢測(cè)(Eddy Current Testing)。

　　一：射線檢測(cè)(RT)的原理和特點(diǎn)

　　射線檢測(cè)(Radiographic Testing)，業(yè)內(nèi)人士簡(jiǎn)稱RT，是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)(Nondestructive Testing)的一個(gè)重要專業(yè)門類。

　　射線檢測(cè)主要的應(yīng)用是探測(cè)工件內(nèi)部的宏觀幾何缺陷。按照不同特征，可將射線檢測(cè)分為多種不同的方法，例如：X射線層析照相(X-CT)、計(jì)算機(jī)射線照相技術(shù)(CR)、射線照相法，等等。

　　射線照相法，利用X射線管產(chǎn)生的X射線或放射性同位素產(chǎn)生的γ射線穿透工件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法。該方法是最基本、應(yīng)用泛的的一種射線檢測(cè)方法，也是射線檢測(cè)專業(yè)培訓(xùn)的主要內(nèi)容。

　　射線照相法的原理

　　射線檢測(cè)，本質(zhì)上是利用電磁波或者電磁輻射(X射線和γ射線)的能量。

　　射線在穿透物體過(guò)程中會(huì)與物質(zhì)發(fā)生相互作用，因吸收和散射使其強(qiáng)度減弱。強(qiáng)度衰減程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和射線在物質(zhì)中穿透的厚度。

　　射線照相法的原理：如果被透照物體(工件)的局部存在缺陷，且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)又不同于試件(例如在焊縫中，氣孔缺陷里面的空氣衰減系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于鋼的衰減系數(shù))，該局部區(qū)域的透過(guò)射線強(qiáng)度就會(huì)與周圍產(chǎn)生差異。把膠片放在適當(dāng)位置使其在透過(guò)射線的作用下感光，經(jīng)過(guò)暗室處理后得到底片。

　　射線穿透工件后，由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同，底片上相應(yīng)部位等會(huì)出現(xiàn)黑度差異。射線檢測(cè)員通過(guò)對(duì)底片的觀察，根據(jù)其黒度的差異，便能識(shí)別缺陷的位置和性質(zhì)。

　　以上描述的基本原理和醫(yī)院拍X光大同小異。