直讀光譜儀叫原子發(fā)射光譜儀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以還沒有計算機采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計算機技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計算機完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的就叫直接可以讀出結(jié)果，簡稱就叫直讀。

目前商品化的儀器主要是固定通道式光電直讀光譜儀，光電直讀光譜儀主要由激發(fā)光源、光學(xué)系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)構(gòu)成，光電直讀光譜儀的檢測器是PMT，此種檢測器的設(shè)計具有性能穩(wěn)定，信號增益率高的特點，且分析通道獨立，相互不受影響。

隨著科技的分速發(fā)展，電感耦合器CCD應(yīng)用于火花直讀光譜儀的電子檢測器件，CCD檢測器件的應(yīng)用使光譜儀實現(xiàn)小型化成為可能，但是由于此項技術(shù)在這一領(lǐng)域應(yīng)用時間短，很多問題有待進一步完善；

1、CCD檢測器受環(huán)境條件，尤其是受溫度的影響很大，因此環(huán)境條件的變化對儀器穩(wěn)定性有為突出，特別是爐快速定量分析更加明顯。
2、在分析時，CCD型的光譜儀器一般要求每次分析都要先激發(fā)標準樣品，并進行儀器校正，然后在進行樣品分析，否則，誤差很大。
3、CCD是一個檢測器件，其自身的強檢測能力也帶來了波動大、輸出大噪音等嚴重缺點， CCD在低溫工作時，暗電流非常低，因此，CCD檢測器的光譜儀器慢慢淡出市場。
隨之而來的是CMOS檢測器件的光譜儀，CMOS光譜儀的景很好，其主要原因：
1、它既能具備PMT光譜儀的精度還具備CCD直讀光譜儀的全譜特性，應(yīng)該是光譜儀的大趨勢。
2、信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對CCD來說幾乎是沒有的，所以測樣的穩(wěn)定性比CCD好很多。
3、由于CMOS的光路結(jié)構(gòu)，使其可以接收從深紫外區(qū)域到1000 nm的波長譜線，比CCD光譜儀的譜線范圍還要廣，覆蓋的元素種類還要多。很多行內(nèi)家都十分看好。