X熒光光譜儀已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域，是一種快速、無(wú)損、多元素同時(shí)測(cè)定的分析技術(shù)，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時(shí)的檢測(cè)、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就x熒光光譜儀的工作原理及其應(yīng)用做簡(jiǎn)單介紹。

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得*多也*廣泛。

大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

優(yōu)點(diǎn):
1、分析速度高·測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2-5分鐘就可以測(cè)克樣品中的全部待測(cè)元素。
2、 雙射線泰光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀志無(wú)關(guān),而且跟固體 粉末.液體反晶質(zhì),非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀志也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分游率的精密測(cè)定中卻可著到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象·特別是在超軟刈對(duì)線范圍內(nèi),這種效應(yīng)吏為顯著.波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定
3、 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)伏態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反真多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、 X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5、 分析精密度高。
6、 制樣簡(jiǎn)單,固體,粉末,液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn):
1、 難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣。
2、對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
3、容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長(zhǎng)色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)