美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀

美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀
美國(guó)泛美35DL精密超聲波測(cè)厚儀一般應(yīng)可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測(cè)量；


35和35DL用于大多數(shù)的應(yīng)用中
35和35DL可使用的探頭范圍從2.25到30MHz，這意味著這些多功能型儀器可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測(cè)量應(yīng)用。35高精度超聲波測(cè)厚儀選配高頻小直徑的探頭（M208探頭）用于較薄或者曲面工件的測(cè)量，并且能提高測(cè)量的精度。

美國(guó)泛美35和35DL精密超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用
--從薄到厚的大多數(shù)材料
--薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
--薄至0.10mm（或0.004英寸）的金屬容器、鋼圈、機(jī)械加工零件
--氣缸內(nèi)孔，渦輪葉片
--玻璃燈泡，瓶子
--薄的纖維玻璃，橡膠，陶瓷和復(fù)合材料
--小半徑曲面和容器
--分辨率高達(dá)0.001mm或0.0001″

美國(guó)泛美35DL高精度超聲波測(cè)厚儀新功能：

實(shí)時(shí)A-SCAN（波形）和調(diào)節(jié)模式（選項(xiàng)）
B-掃描
DB 柵格顯示
35DL系列功能

對(duì)所有的型號(hào)，聲速和減薄率測(cè)量是正常模式
從0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度測(cè)量范圍，取決于儀器和材料
使用直接接觸式、延遲式和水浸式探頭
具有默認(rèn)設(shè)置和用戶自定義設(shè)置應(yīng)用自動(dòng)－調(diào)用功能
手持式，重量?jī)H8.5oz.（0.24kg）
*小/*大值模式
高－低報(bào)警
英制和公制單位顯示（英寸/毫米）
35DL高精度超聲波測(cè)厚儀多種語(yǔ)言用戶界面
長(zhǎng)的電池壽命