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超聲波探頭配置方案一
探頭類型 | 頻率(MHz) | 晶片/角度/聚焦 | 說明 |
直探頭 | 2.5MHz | Φ20mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 |
5MHz | Φ20mm | 常規(guī)檢測 | |
雙晶直探頭 | 2.5MHz | Φ20/F15mm | 粗晶薄件材料檢測 |
5MHz | Φ20/F10mm | 薄件材料檢測 | |
斜探頭 | 2.5MHz | 9×9mm | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) |
超聲波探頭配置方案二
探頭類型 | 頻率(MHz) | 晶片/角度/聚焦 | 說明 |
直探頭 | 1MHz | Φ20mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 |
2.5MHz | Φ20mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 | |
5MHz | Φ20mm | 常規(guī)檢測 | |
雙晶直探頭 | 2.5MHz | Φ20/F15mm | 粗晶薄件材料檢測 |
5MHz | Φ20/F10mm | 薄件材料檢測 | |
斜探頭 | 5MHz | 6×6 | K2 |
5MHz | 9×9 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) | |
2.5MHz | 9×9 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) | |
2.5MHz | 13×13 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) |
超聲波探頭配置方案三
探頭類型 | 頻率(MHz) | 晶片/角度/聚焦 | 說明 |
直探頭 | 1MHz | Φ20mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 |
2.5MHz | Φ10mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 | |
2.5MHz | Φ20mm | 粗晶材料,大厚度工件檢測 | |
5MHz | Φ10mm | 常規(guī)檢測 | |
5MHz | Φ20mm | 常規(guī)檢測 | |
雙晶直探頭 | 2.5MHz | Φ20/F15mm | 粗晶薄件材料檢測 |
2.5MHz | Φ20/F30mm | 粗晶薄件材料檢測 | |
5MHz | Φ20/F10mm | 薄件材料檢測 | |
5MHz | Φ20/F20mm | 薄件材料檢測 | |
斜探頭 | 5MHz | 6×6 | K2/K2.5各一個 |
5MHz | 9×9 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) | |
2.5MHz | 9×9 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) | |
2.5MHz | 13×13 | 45°/60°/70°各一個 或K1/K2/K2.5各一個 (二組選一) | |
高頻探頭 | 15 | Φ6mm | 高精度測厚,超薄件檢測 |