數(shù)字超聲波探傷儀按探傷時間分類，數(shù)字超聲波探傷儀鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過程中的探傷，產(chǎn)品檢驗及在役檢驗。
原材料超聲波探傷和制造過程中超聲波探傷的目的是及早發(fā)現(xiàn)缺陷，以便及時采取措施避免缺陷發(fā)展擴大造成報廢。產(chǎn)品檢驗的目的是保證產(chǎn)品質(zhì)量。在役檢驗的目的是監(jiān)督運行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷，主要是疲勞裂紋。
a.軸類鍛件的數(shù)字超聲波探傷儀檢測
軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的探測以縱波直探頭從徑向探測?？紤]到缺陷會有其它的分布及取向，因此軸類鍛件探傷，還應(yīng)輔以直探頭軸向探測和斜探頭周向探測及軸向探測。
1）直探頭徑向和軸向探測：直探作徑向探測時將探頭置于軸的外緣，沿外緣作全面掃查，以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中常見的縱向缺陷。
直探頭作軸向探測時，探頭置于軸的端頭，并在軸端作全面掃查，以檢出與軸線相垂直的橫向缺陷。但當軸的長度太長或軸有多個直徑不等的軸段時，會有聲束掃查不到的死區(qū)，因而此方法有一定的局限性。
2）斜探頭周向及軸向探測：鍛件中若在片狀軸向及徑同缺陷或軸上有幾個不同直徑的軸段，用直探頭徑向或軸向探測都難以檢出的，則必須使用斜探頭在軸的外圓作周向及軸向探測?？紤]到缺陷的取向，探測時探頭應(yīng)作正、反兩個方向的全面掃查。
b.餅類、碗類鍛件的超聲波探傷
餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主，缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在端面探測是檢出缺陷的方法。
對于上些重要的餅類、碗類鍛件，要從兩個端面進行探傷，此外有時還要從側(cè)面進行徑向探傷。
從兩端面探測時，探頭置于鍛件端面進行全面探測，以探出與端面平行的缺陷。從鍛件側(cè)面進行徑向探測時，探頭在鍛件側(cè)面掃查，以發(fā)現(xiàn)某些軸向缺陷。
c.筒類鍛件的超聲波探傷
筒類鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷的取向復雜。但由于鑄錠中差的中心部分已被沖孔時去除，因而筒類鍛件的質(zhì)量一般較好。其缺陷的主要取向仍與筒體外圓表面平行，所以筒類鍛件的探傷仍以直探頭外圓面探測為主，但對于壁較厚的筒類鍛件，須加用斜探頭探測。
1）直探頭探測：用直探頭從筒體外圓面或端面進行探測。外圓探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷。端面探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。
2）雙晶探頭探測：為了探測筒體近表面缺陷，需要采用雙品探頭從外圓面或端面探測。
3）斜探頭探測：對于某些重要的筒形鍛件還要用斜探頭從外圓進行軸向和周向探測。軸向探測為了發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷。周向探測是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺陷。
3. 超聲波探測條件的選擇
1）超聲波探頭的選擇：鍛件超聲波探傷時，主要使用縱波直探頭，晶片尺寸為Φ14～Φ28mm，常用Φ20mm。對于較小的鍛件，考慮近場區(qū)和耦合損耗原因，一般采用小晶片探頭。有時為了探測與探測面成一定傾角的缺陷，也可采用一定K值的斜探頭進行探測。對于近距離缺陷，由于直探頭的盲區(qū)和近場區(qū)的影響，常采用雙晶直探頭探測。
鍛件的晶粒一般比較細小，因此可選用較高的探傷頻率，常用2.5～5.0MHz。對于少數(shù)材質(zhì)晶粒粗大衰減嚴重的鍛件，為了避免出現(xiàn)“林狀回波”，提高信噪比，應(yīng)選用較低的頻率，一般為1.0～2.5MHz。
2）耦合劑的選擇：在鍛件探傷時，為了實現(xiàn)較好的聲耦合，一般要求探測面的表面粗糙糙R，不高于6.3um，表面平整均勻，無劃傷、油垢、污物、氧化皮、油漆等。
當在數(shù)字超聲波探傷儀試塊上調(diào)節(jié)探傷靈敏度時，要注意補償塊與工件之間因曲率半徑和表面粗糙度不同引起的耦合損失。
鍛件探傷時，常用機油、漿糊、甘油等作耦合劑。當鍛件表面較粗糙時也可選用水玻璃作耦合劑。
3）掃查方法的選擇：鍛件探傷時，原則上應(yīng)在探測面上從兩個相互垂直的方向進行全面掃查。掃查覆蓋面應(yīng)為探頭直徑的15%，探頭移動速度不大于150mm/s。擋查過程中要注意觀察缺陷波的情況和底波的變化情況。
4）材質(zhì)衰減系統(tǒng)的測定：當鍛件尺寸較大時，材質(zhì)的衰減對缺陷定量百一定的影響。特別是材質(zhì)衰減嚴重時，影響更明顯。因此，在鍛件探傷中有時要測定材質(zhì)的衰減系數(shù)a。衰減系數(shù)可利用下式來計算：
式中：[B]1一[B]2——無缺陷處、二次底波高的分貝差：
X——底波聲程(單程)。
值得注意的是：測定衰減系數(shù)時，數(shù)字超聲波探傷儀探頭所對鍛件底面應(yīng)光潔干凈，底面形狀為大平底或圓柱面，χ≥3N，測試處無缺陷。一般選取三處進行測試，最后取平均值。
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