1. X射線(xiàn)管靶材及功率條件

功率條件取決于作為目標(biāo)材料和焦點(diǎn)類(lèi)型的射線(xiàn)管。盡管Cu靶廣泛用于衍射（特別是多用途衍射儀），但不建議使用Cu靶進(jìn)行殘余奧氏體分析，因?yàn)殍F基材料的熒光很強(qiáng)（可以使用Cu靶，但需要從衍射光束中去除熒光）。

因此，可以使用Mo、Cr或Co來(lái)避免熒光，然后實(shí)現(xiàn)較低的背景。ASTM指出，推薦選擇是Cr或Mo，這取決于是否需要獲得更好的分辨率（Cr）或是否需要收集盡可能多的峰（Mo）以盡量減少樣品問(wèn)題（樣品的不均勻性或織構(gòu)）。

此外，Mo靶的輻射能量更高，也能使吸收效應(yīng)zui小化，從而獲得更高的計(jì)數(shù)率。

因此，Mo靶是殘余奧氏體測(cè)試的優(yōu)選，我們選擇它來(lái)裝配到ARE X殘余奧氏體分析儀。

至于推薦功率，它取決于輻射能量，因此Mo>Co>Cr。

2.   Mo靶與Cr靶實(shí)際測(cè)試對(duì)比

對(duì)于殘余奧氏體的XRD測(cè)量，可以使用任何能夠記錄至少2個(gè)α鐵峰和2個(gè)γ鐵峰的輻射靶才行，它可以是Cr、Mo，甚至Co。

圖1 ARE X測(cè)試結(jié)果

如下圖所示，使用Mo靶相較Cr靶而言還有其他優(yōu)勢(shì)，比如使用Cr靶的測(cè)試誤差要大于Mo靶。

圖2 測(cè)試結(jié)果的誤差對(duì)比

使用Cr靶的優(yōu)勢(shì)是它可能具有更好的峰分辨率，因?yàn)榉灞舜讼嗑嗪苓h(yuǎn)。但是，如果使用當(dāng)前的快速檢測(cè)器，這并無(wú)太大實(shí)際意義。所以對(duì)于ARE X殘余奧氏體分析儀仍然推薦使用Mo靶。

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線(xiàn)產(chǎn)品線(xiàn)誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線(xiàn)已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠搭載模塊在常規(guī)XRD上實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。