電氣絕緣材料電解腐蝕試驗(yàn)裝置

（DJFS-A）

滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10582-2008/IEC 60426：2007 電氣絕緣材料 測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗(yàn)方法

產(chǎn)品概述：

本試驗(yàn)裝置適用于剛性絕緣材料、澆鑄、模塑、注塑和壓塑材料及軟膜、箔和薄片、粘帶、軟管、絕緣漆等絕緣材料在高溫高濕條件下，在直流電壓和某些物質(zhì)包括有機(jī)物質(zhì)的聯(lián)合作用下的電化腐蝕。

試驗(yàn)要求：

在規(guī)定的環(huán)境條件下和在平行相距3MM的正極銅薄和負(fù)極銅薄上加上直流電位差，試樣上放置兩個(gè)試箔，在金屬箔與試樣間得到均勻良好接觸，通過圓柱形的負(fù)載管用金屬箔壓住試樣。在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)做完試驗(yàn)后，通過目測法（定性分析）、抗拉強(qiáng)度法（定量分析）對(duì)試樣進(jìn)行綜合評(píng)定。

技術(shù)要求：

1、 溫度要求：（55±1）℃

2、 相對(duì)濕度：（93±2）%

3、 試驗(yàn)時(shí)間：（240±3）h

4、 加載電壓：直流（120±5）V

5、 試樣數(shù)量：一組試樣五個(gè)

6、 試箔：長度-200mm,寬度：10mm，厚度0.1mm,99.9%淬火處理

除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外,取樣前，除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外,試驗(yàn)應(yīng)在溫度23°C±2C、相對(duì)濕度50%±5%、環(huán)境潔凈度不大于10000級(jí)的條件下進(jìn)行。厚度應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求采用下列規(guī)定中的一種或幾種方法進(jìn)行測定。根據(jù)ISO1993,用精密千分尺或立式光學(xué)計(jì)或其他儀器測量單張?jiān)嚇拥暮穸取１∧ず穸刃∮?00jum時(shí),用立式光學(xué)計(jì)或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm?50mm的球面測帽。測量壓力為0.5N?1N。薄膜厚度大于或等于100jum時(shí)，可用千分尺測量。薄膜厚度小于15/xm時(shí)，精度不低于0.2卩m；薄膜厚度大于或等于15mm但小于100時(shí)。

精度不低于1卩m；薄膜厚度大于或等于100/zm時(shí)，精度不低于2卩m。沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜（當(dāng)膜卷寬度小于400mm時(shí)，可適當(dāng)多取幾條），試樣不應(yīng)有皺折或其他缺陷。按ISO1993的要求，測量試樣的厚度。在試樣上等距離共測量27點(diǎn)，兩測量點(diǎn)間距不少于50mm。對(duì)未切邊的膜卷,測量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣50mm,對(duì)已切邊的卷，測量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣2mm。取27個(gè)測量值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果，并報(bào)告大值和小值。薄膜疊層試樣的數(shù)量為四個(gè)，每個(gè)疊層試樣由12層薄膜組成。其制備方法如下:從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時(shí)切取，并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板（推薦尺寸為：250mmX200mm,其中200mm為板的長度方向尺寸）

新款電氣絕緣材料電解腐蝕試驗(yàn)機(jī)

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