表面掃描法 輻射發(fā)射測試

  ◆IEC  61967-1:  Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions  -  Part  1:  General  conditions  and de?nitions

  ◆IEC  61967- 3: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated  missions - Surface scan method

    測試介紹 ：

    表面掃描法是評估集成電路表面近電場和近磁場元件的一種方法。

    這一測量方法可以應用在任何一個集成在印刷電路板上、方便于使用探針測量的集成電路上。通過對集成電路表面進行電場和磁場掃描，能夠得到關(guān)于電磁輻射源相對強度的相關(guān)信息 。運用該方法可以準確地定位芯片上集成電路封裝內(nèi)電 磁輻射量過大的區(qū)域。

測試配置布置圖：

      主要測試設(shè)備：IC掃描儀等

測試環(huán)境：屏蔽室